SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Mã sản phẩm
SN74LVTH182512DGGR
Nhà sản xuất/Thương hiệu
Loạt
74LVTH
Trạng thái một phần
Active
Bao bì
Cut Tape (CT)
Nhiệt độ hoạt động
-40°C ~ 85°C
Kiểu lắp
Surface Mount
Gói / Thùng
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Gói thiết bị của nhà cung cấp
64-TSSOP
Cung cấp hiệu điện thế
2.7 V ~ 3.6 V
Số Bit
18
Loại logic
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Yêu cầu báo giá
Vui lòng hoàn thành tất cả các trường bắt buộc và nhấp vào "SUBMIT", chúng tôi sẽ liên hệ với bạn sau 12 giờ qua email. Nếu bạn có bất kỳ vấn đề gì, vui lòng để lại tin nhắn hoặc gửi email đến chen_hx1688@hotmail.com, chúng tôi sẽ phản hồi sớm nhất có thể.
Trong kho 17539 PCS
Thông tin liên lạc
Những sảm phẩm tương tự
Từ khóa của SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR Linh kiện điện tử
SN74LVTH182512DGGR Việc bán hàng
SN74LVTH182512DGGR Nhà cung cấp
SN74LVTH182512DGGR Nhà phân phối
SN74LVTH182512DGGR Bảng dữ liệu
SN74LVTH182512DGGR Ảnh
SN74LVTH182512DGGR Giá
SN74LVTH182512DGGR Lời đề nghị
SN74LVTH182512DGGR Giá thấp nhất
SN74LVTH182512DGGR Tìm kiếm
SN74LVTH182512DGGR Thu mua
SN74LVTH182512DGGR Chip